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Cassification
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可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光 小王子 晶圓 鹵素光源 裝置
2024-11-18
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2024-11-18
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2024-11-18
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2024-11-18
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2024-11-18
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