40WLX強光燈是一種高亮度鹵素光源裝置,主要用于宏觀觀察場景中的缺陷檢測,其核心作用是通過提供超高照度照明,輔助檢測樣品表面的微小缺陷。以下是具體作用分析:
1. 缺陷檢測:精準識別微觀表面問題
檢測對象:適用于半導體晶片、液晶基板、光學元件等精密制品的表面檢測。
可識別缺陷類型:
劃痕:高亮度照明下,微小劃痕會因光線反射差異被清晰捕捉。
不均勻拋光:表面凹凸不平導致的光散射差異,在強光下更易顯現。
霧度:材料內部或表面微粒引起的光散射,強光可放大霧度區域的對比度。
表面灰塵/滑移:微小顆粒或材料移位在超高照度下形成明顯陰影。
照度優勢:樣品表面照度可達400,000 Lx以上(遠超常規照明),確保缺陷無所遁形。
光源特性:
鹵素燈+冷鏡設計:色溫約3,400K,光線接近自然光,減少色彩失真。
高穩定性:照明均勻,避免局部過亮或過暗,確保觀察結果一致性。
銳利邊緣:光線聚焦性強,可清晰呈現樣品邊緣輪廓,輔助尺寸測量。
適用場景:
工業質檢:在生產線或實驗室中,快速篩查產品表面缺陷。
科研分析:為材料科學、光學研究提供高精度觀察條件。
3. 靈活適配:滿足多樣化檢測需求
照射范圍:
光斑直徑:支持30mm至60mm可調,適應不同尺寸樣品。
照射距離:140mm至220mm可調,靈活控制觀察視角。
模塊化設計:
可拆卸部件:測試艙、氣路管道等模塊支持快速拆卸,便于清潔維護。
兼容性:可搭配顯微鏡、攝像頭等設備,擴展觀察功能。
4. 40WLX強光燈行業應用:覆蓋精密制造與科研領域
半導體行業:檢測晶圓表面劃痕、顆粒污染,確保芯片良率。
液晶顯示行業:篩查基板霧度、滑移,提升屏幕顯示質量。
光學元件制造:驗證透鏡、棱鏡表面拋光均勻性,保障光學性能。
科研機構:為材料表面分析、納米技術研究提供基礎觀察工具。
